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薄膜应力仪FST1000(硬质涂层量测)
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薄膜应力仪FST1000(硬质涂层量测)
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基于经典基片弯曲法Stoney公式测量原理,采用先进控制技术和傻 瓜化的操作,使得FST1000薄膜应力仪特别适合于要求快速测量硬 质涂层等薄膜残余应力(典型值0.1GPa到10 GPa量级)。
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