▶超高性价比光学椭偏测量解决方案
▶紧凑集成化设计，极致用户操作体验
▶一键快速测量分析，人机交互设计，使用便捷
▶丰富的数据库和几何结构模型库，保证强大数据分析能力
产品特点
1）采用高性能进口复合光源，光谱覆盖可见到近红外范围 (400-800nm)；
2）高精度旋转补偿器调制、PCRSA配置，实现Psi/Delta光谱数据高速采集；
3）数百种材料数据库、多种算法模型库，涵盖了目前绝大部分的光电材料；
产品应用
广泛应用于科研/企业中各种单层到多层薄膜膜厚以及光学常数等快速表征分析。
建议配件
