概述

RT-V 系列反射透射测量仪，采用进口氘卤二合一光源，结合高性能分光光谱仪，可测量获得紫外到近红外光谱范围样品的反射率和穿透率光谱，并进一步计算获得样品色坐标，以及薄膜厚度、光学常数等信息。

▶高性价比穿透率、反射率测量解决方案
▶色坐标计算和薄膜特征解析
▶模块化定制，支持在线集成应用

产品特点

1）采用高性能进口氘卤二合一光源，光谱范围覆盖可见光到近红外范围；

2）采用高性能分光光谱仪，可量测透明、低对比度、高反射率样品；

3）支持全光谱范围反射率高精度量测，基于薄膜层上下界面反射光干涉原理，轻松解析单层至多层薄膜特征；

4）支持紫外到近红外光谱范围内的穿透率高精度、高稳定性量测，并支持直接计算获得对应色坐标；

测量实例

技术参数

产品应用

RT 系列反射透射测量仪，可实现各种透明、低对比度、高反射率样品反射率和穿透率光谱快速精准测量，并进一步计算获得样品色坐标、薄膜样品厚度及光学常数。广泛应用于各种滤光片、滤镜、镜头、玻璃、染色液、薄膜的测量。

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