薄膜应力仪FST5000(光电薄膜)

薄膜应力仪FST5000(光电薄膜)

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薄膜应力仪FST5000(光电薄膜)

  • 产品详情
  • 产品参数

      基于经典基片弯曲法Stoney公式测量原理,采用先进的激光扫描方法和探测技术,以及智能化的操作,使得FST5000薄膜应力仪特别适合晶圆类光电薄膜样品的弓高、轮廓形貌、曲率半径和薄膜应力测量。


产品名称

薄膜应力仪FST5000(光电薄膜)

产品图片

图片1.png

基本原理

激光曲率法

Stoney公式计算内应力

主要方法

采用双波长激光对样品进行扫描测量

635nm/670nm波长,>5mW

主要功能

自动测量晶圆样品轮廓形貌、弓高、翘曲度曲率半径和薄膜应力

薄膜应力测试范围

1MPa10000MPa

曲率半径测试范围

21000m

曲率半径重复精度

<1%(曲率半径<20m)

<2.5%(曲率半径<100m)

<5%(曲率半径<500m)

扫描最小步长

0.1mm

样品尺寸

子型号M6-标配最大6英寸,向下兼容4、3、2、1英寸

子型号M8-标配最大8英寸,向下兼容64、3、2、1英寸

子型号M12-标配最大12英寸,向下兼容84、3、2、1英寸

样品台

电动旋转平台

样品基片校正

可数据处理校正原始表面不平影响(对减模式)

电源

110-220VAC&200W Max

通讯连接端口

USB3.0

工作温度

0-50℃

操作软件

可视化2D/3D显示晶圆表面轮廓弓高、翘曲

曲率半径和薄膜应力分布

视窗界面,适用于Windows 10系统

操作电脑

标配台式一体机:

显示器≥21英寸,8G内存,CPU≥2.5GHz512G硬盘

外形尺寸

850mm*550mm*450mm

重量

35Kg