基于经典基片弯曲法Stoney公式测量原理,采用先进的激光扫描方法和探测技术,以及智能化的操作,使得FST5000薄膜应力仪特别适合晶圆类光电薄膜样品的弓高、轮廓形貌、曲率半径和薄膜应力测量。
产品名称 | 薄膜应力仪FST5000(光电薄膜) |
产品图片 | ![]() |
基本原理 | 激光曲率法 Stoney公式计算内应力 |
主要方法 | 采用双波长激光对样品进行扫描测量 635nm/670nm波长,>5mW |
主要功能 | 自动测量晶圆样品轮廓形貌、弓高、翘曲度、曲率半径和薄膜应力 |
薄膜应力测试范围 | 1MPa~10000MPa |
曲率半径测试范围 | 2~1000m |
曲率半径重复精度 | <1%(曲率半径<20m) <2.5%(曲率半径<100m) <5%(曲率半径<500m) |
扫描最小步长 | 0.1mm |
样品尺寸 | 子型号M6-标配最大6英寸,向下兼容4、3、2、1英寸 子型号M8-标配最大8英寸,向下兼容6、4、3、2、1英寸 子型号M12-标配最大12英寸,向下兼容8、4、3、2、1英寸 |
样品台 | 电动旋转平台 |
样品基片校正 | 可数据处理校正原始表面不平影响(对减模式) |
电源 | 110-220VAC&200W Max |
通讯连接端口 | USB3.0 |
工作温度 | 0-50℃ |
操作软件 | 可视化2D/3D显示晶圆表面轮廓、弓高、翘曲 曲率半径和薄膜应力分布 视窗界面,适用于Windows 10系统 |
操作电脑 | 标配台式一体机: 显示器≥21英寸,≥8G内存,CPU≥2.5GHz,≥512G硬盘 |
外形尺寸 | ~850mm宽*550mm深*450mm高 |
重量 | ~35Kg |